반도체 패키징 시험기
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Wafer Vision Inspection
개요
- Wafer의 전체 이미지를 Wafer MapData File과 비교 및 요약정보 생성
특징
- Wafer Map Data를 시각정보로 바꿔서 화면에 표시
- Map Data 와의 Good/Reject 의 오차를 집계 및 파일로 저장
- Wafer Map Data Image 와 Wafer Capture Image 를 Overlay 시켜서 비교가능
- 키보드를 이용한 Wafer Map Area 조정기능
